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半导体检测设备项目
可以对应中大尺寸的TFT-LCD外观检测项目，已积累了相关知识产权64件，其中发明专利两项，实用新型29
项，软件著作权33项。可以根据光学图像进行缺陷判别，缺陷大于0.05mm，图像中缺陷可见且对比度与背景相差10以上，算法100%能够检测，且过检率<=10%。
股权收购、技术合资等。
供给
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