当前位置: 首页 >技术项目-详情
TEPS CO., Ltd半导体探针检测技术
Probe Card是在半导体晶圆检测 (Wafer Test)时使用的半导体测试设备,单独向Wafer的各个Chip中发送信号,目的是测试产品的合格与否。
* 韩国注册专利3件, 台湾申请3件, PCT 申请(美国, 中国, 欧盟)3件, 商标权注册1件
* 成功判定政府职员技术开发课题3件 : 中小企业厅1件, 创业振兴院2件
期待的对接企业 1) 有意向对我公司进行投资的投资机构 2) 关注半导体Test领域的机构 ▣各个拓展类型的详细要求 - 投资规模 : 20亿韩元 - 资金用途 1) 研发费3亿韩元 2) 专利申请/注册费1亿韩元 3) 人工费5亿韩元 4) 设施费11亿韩元 - 投资方式 :普通股或者可转换可赎回优先股 - 投资时企业价值:Pre-Value 约68亿韩元, Post-Value 约156亿韩元
供给

联系我们

E-mail:761gongchang@761cspace.com
电 话:010-62371671
地 址:北京市西城区黄寺大街23号北广·金融科技中心6层

关注我们

扫一扫关注761工场

想要了解更多?立即咨询