半导体检测设备项目

2021-01-28 

可以对应中大尺寸的TFT-LCD外观检测项目,已积累了相关知识产权64件,其中发明专利两项,实用新型29
项,软件著作权33项。可以根据光学图像进行缺陷判别,缺陷大于0.05mm,图像中缺陷可见且对比度与背景相差10以上,算法100%能够检测,且过检率<=10%。

合作方式:股权收购、技术合资等。

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